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北京恒奥德科技有限公司 010-51666869 传 真：010-69807135 13120411557 18701256112 联系人：李红慧 1575574360 1321298635 1445496132 号院16号楼317 （北京市地质工程勘察院院内）
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椭圆偏振测厚仪 偏振测厚仪 测厚仪 型号：TP-TPY-1
在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。
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北京恒奥德科技有限公司 010-51666869 传 真：010-69807135 13120411557 18701256112 联系人：李红慧 1575574360 1321298635 1445496132 号院16号楼317 （北京市地质工程勘察院院内）
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