FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪介绍

FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪一套，可配有粉末测试台、四探针测试架。

该仪器符合以下主要技术指标： 

1．测量范围： 

电阻 10-4 – 106Ω, 分辨率 1μΩ ；

电阻率 10-4 – 106Ω•.cm，分辨率 1μΩ•cm；

薄层电阻  10-3~107Ω/□，分辨率10-5Ω/□；

测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）。 

2．测量电压量程：0.2 mV、2mV、20mV、 200mV、2V，分辨率 0.1 µV；

测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）。 

3.测量电流：0 - 100 mA 连续可调；

电流量程：1µA、10 µA、100 µA、 1 mA、10 mA、100mA。 

4.粉末测量:

试样粒度:标准筛网40目以上,直至纳米材料；

试样容器：内腔Φ10 ± 0.1mm ；

试样高度：16mm ± 0.5mm 或6-20mm ± 0.1mm；

测量误差：±0.1mm 。

取样压力：4 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

         或8 Mpa ± 0. 5 Mpa ( 80 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)；

压力量程：0 - 190 kg 可调。 

5..固体薄膜及半导体测量:四探针测试架;

探针间距1 mm±0.03mm；

探针游移率<±0.3%；

可测材料尺寸,直径Φ15~160,长度<400

6.显示方式: 电阻、电阻率、压力、高度为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点。

7.电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗<150W。

8.电气箱外形尺寸：440mm×120mm×420mm 。

9.通过粉末测试架和固态四探针测试架对粉末、片状、块状半导体材料进行电阻、电阻率、方块电阻等多作途测量。

仪器主机和测试架

仪器主机

        四探针测试架示意图

粉末测试台

北京恒奥德科技有限公司

李红慧    15810842463